Show simple item record

dc.contributor.authorФранцкевич, Н. В.
dc.contributor.authorШеденков, С. И.
dc.contributor.authorФедотов, А. К.
dc.contributor.authorМазаник, А. В.
dc.contributor.authorРау, Э. И.
dc.contributor.authorКулинкаускас, В. С.
dc.coverage.spatialМинскru
dc.date.accessioned2012-03-20T09:15:35Z
dc.date.available2012-03-20T09:15:35Z
dc.date.issued2010
dc.identifier.citationФормирование глубинных наноразмерных слоев силицидов и диэлектриков в кремнии : отчет о НИР (заключительный) : № ГР 20062993 / Белорусский национальный технический университет ; рук. А. В. Францкевич ; исполн.: А. В. Мазаник [и др.]. – Минск : [б. и.], 2010.ru
dc.identifier.urihttps://rep.bntu.by/handle/data/1797
dc.description.abstractОбъектом исследования являются пластины кремния, содержащие глубинные слои и иные дефекты, сформированные посредством имплантации и последующего геттерирования на них примесей. Цель работы – разработка принципов формирования областей с особыми свойствами в пластинах кремния посредством имплантации водорода, гелия или аргона и последующей плазменной обработки. Основные методы исследования: резерфордовское обратное рассеяние, сканирующая электронная микроскопия, масс-спектроскопия вторичных ионов, измерение времени жизни неравновесных носителей, спектроскопия комбинационного рассеяния. В результате проведенной работы установлено, что в пластинах кремния, содержащих захороненный дефектный слой, предварительно созданный имплантацией водорода, геттерирование металлических примесей происходит не только в области проективного пробега имплантированных ионов водорода Rp, но также и на глубинах Rp/2 и Rp/4. Имплантация в пластины кремния ионов гелия с энергией 200 кэВ (Rp = 1,4 мкм) при комнатной температуре дозой 2⋅1016 см-2, последующий вакуумный отжиг при температуре 700o С в течение 2 ч , обработка в кислородной плазме постоянного разряда, приводящая к введению кислорода дозой 2⋅1017 см-2, финальный вакуумный отжиг при 900 oC позволяет формировать систему одномерных вертикальных нанотрубок. Экспериментально установлено, что помимо образования нанотрубок в объеме кремниевой пластины при определенных технологических условиях в результате последовательно выполненных имплантации гелия, отжига и обработки пластин кремния в плазме азота, на поверхности возможно формирование массива субмикронных конусообразных дефектов с нанометровым радиусом закругления острия. Методом спектроскопии комбинационного рассеяния показана возможность накопления введенного из плазмы водорода на глубинном слое дефектов, созданного малыми дозами имплантации водорода ((0,1–5)⋅1015 ат/см2). Установлено, что температуры имплантации и водородно-плазменной обработки, наиболее оптимальные для получения однородных захороненных слоев с сохранением структурно-совершенной приповерхностной области, лежат в интервале 250-350 оС, что имеет важное практическое значение для создания структур «кремний-на-изоляторе».ru
dc.language.isoruru
dc.titleФормирование глубинных наноразмерных слоев силицидов и диэлектриков в кремнииru
dc.title.alternativeОтчет о НИР (заключительный) : № ГР 20062993ru
dc.typeTechnical Reportru
dc.contributor.supervisorФранцкевич, А. В.ru


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record