Принципы проектирования накладных измерительных конденсаторов в присутствии заземленной плоскости
Date
2011Publisher
xmlui.dri2xhtml.METS-1.0.item-identifier-udc
621.317.39.084.2Bibliographic entry
Джежора, А. А. Принципы проектирования накладных измерительных конденсаторов в присутствии заземленной плоскости / А. А. Джежора, А. И. Кузьмич, Е. И. Радевич, В. В. Рубаник // Приборы и методы измерений : научно-технический журнал = Devices and methods of measurements : Scientific and Engineering Journal / гл. ред. Романюк Ф. А. ; Министерство образования Республики Беларусь ; Белорусский национальный технический университет. – Минск : БНТУ, 2011. – №2(3). – С.109–115.
Abstract
Рассмотрены принципы проектирования многосекционных экранированных накладных измерительных конденсаторов, используемых для неразрушающего контроля ортотропных материалов. Дан анализ характеристик: глубины зоны контроля, рабочей емкости, чувствительности к анизотропии диэлектрических свойств. Описаны качественные принципы проектирования, даны рекомендации для оптимизации конструкций. (E-mail : Jezhora@mail.ru)
View/ Open
Collections
- №2 ( 3 )[23]