Анализ метода измерения поверхностного потенциала диэлектриков по схеме токовой компенсации
Date
2011Publisher
xmlui.dri2xhtml.METS-1.0.item-identifier-udc
621.317.321:620.181.4Bibliographic entry
Тявловский, А. К. Анализ метода измерения поверхностного потенциала диэлектриков по схеме токовой компенсации / А. К. Тявловский, А. Л. Жарин // Приборы и методы измерений : научно-технический журнал = Devices and methods of measurements : Scientific and Engineering Journal / гл. ред. Романюк Ф.А. ; кол. авт. Министерство образования Республики Беларусь ; кол. авт. Белорусский национальный технический университет. – Минск : БНТУ, 2011. – №2(3). – С.136–144.
Abstract
Проведен сравнительный анализ динамических зондовых методов измерения поверхностного потенциала. Показано, что для бесконтактных измерений поверхностного потенциала диэлектриков в широком диапазоне значений оптимальным является использование схемы с токовой компенсацией. Преимуществами данной схемы являются высокое пространственное разрешение, широкий диапазон измерений поверхностного потенциала, независимость измерительного сигнала от расстояния между зондом и исследуемой поверхностью в пределах определенного диапазона расстояний. Проанализированы метрологические характеристики предлагаемой схемы и получена расчетная формула для определения предела приведенной методической погрешности измерения.(E-mail: andrey_psf@tut.by)
View/ Open
Collections
- №2 ( 3 )[23]