Show simple item record

dc.contributor.authorТявловский, А. К.ru
dc.contributor.authorЖарин, А. Л.ru
dc.contributor.authorГусев, О. К.ru
dc.contributor.authorВоробей, Р. И.ru
dc.contributor.authorМухуров, Н. И.ru
dc.contributor.authorШаронов, Г. В.ru
dc.contributor.authorПантелеев, К. В.ru
dc.coverage.spatialМинскru
dc.date.accessioned2017-03-02T08:34:04Z
dc.date.available2017-03-02T08:34:04Z
dc.date.issued2017
dc.identifier.citationАнализ дефектов поверхности исходных подложек алюминия и его сплавов методом сканирующего зонда Кельвина = Analysis of surface defects of aluminum and its alloys with a scanning Kelvin probe / А. К. Тявловский // Приборы и методы измерений : научно-технический журнал. - 2017. – Т. 8, № 1. – С. 61 - 72.ru
dc.identifier.urihttps://rep.bntu.by/handle/data/28495
dc.description.abstractВ настоящее время использование методов зондовой электрометрии в неразрушающем контроле сдерживается сложностью интерпретации результатов измерений, что связано с многофакторностью измерительного сигнала, зависящего от большого количества параметров физико-химического состояния поверхности: отклонений химического состава, механических напряжений, дислокаций, кристаллографической ориентации поверхности и др. Целью исследования являлось применение методов зондовой электрометрии для неразрушающего контроля и анализа дефектов прецизионных металлических поверхностей, полученных различными видами обработки. Методика экспериментальных исследований включала в себя построение визуализированного изображения пространственного распределения контактной разности потенциалов (КРП) по поверхности образцов методом сканирующего зонда Кельвина, построение гистограммы распределения значений КРП и определение статистических характеристик распределения, таких как математическое ожидание значений КРП и полуширина гистограммы распределения (для каждой моды при многомодальном распределении). Исследовано пространственное распределение КРП исходных подложек из алюминия А99 и сплава АМГ-2 после обработки поверхностей электрохимической полировкой и алмазным наноточением, а также после формирования на подготовленной поверхности слоя специфического наноструктурированного оксида алюминия толщиной 30 мкм. Более высоким качеством обладают поверхности, характеризующиеся меньшей полушириной гистограммы распределения. Наибольшей механической прочностью и в целом лучшими механическими свойствами при прочих равных условиях обладают поверхности с наиболее низкими значениями контактной разности потенциалов, что соответствует наибольшим значениями работы выхода электрона и поверхностной энергии. Наличие второй моды в гистограмме распределения значений контактной разности потенциалов указывает на наличие значимых по площади дефектных областей на соответствующей поверхности образца. Экспериментально показано, что анализ визуализированных изображений пространственного распределения КРП с использованием данных критериев позволяет выявлять и характеризовать такие дефекты, как места концентрации остаточных механических напряжений, участки с пониженной микротвердостью поверхности, загрязнения, коррозионные дефекты. Тем самым обеспечивается возможность оперативного неразрушающего контроля и диагностики функциональных характеристик прецизионных поверхностей металлов, в частности, исходных подложек для изготовления чувствительных элементов устройств сенсорики.ru
dc.language.isoruru
dc.publisherБНТУru
dc.subjectЗонд Кельвинаru
dc.subjectКонтактная разность потенциаловru
dc.subjectKelvin probeen
dc.subjectContact potential differenceen
dc.titleАнализ дефектов поверхности исходных подложек алюминия и его сплавов методом сканирующего зонда Кельвинаru
dc.title.alternativeAnalysis of surface defects of aluminum and its alloys with a scanning Kelvin probeen
dc.typeArticleru
dc.relation.journalПриборы и методы измеренийru
dc.identifier.doi10.21122/2220-9506-2017-8-1-61-72
local.description.annotationCurrently, the use of probe electrometry in non-destructive testing is constrained by the complexity of measurement results interpretation. An output signal of electrometric probe depends on a number of physical and chemical parameters of surface including chemical composition variations, stresses, dislocations, crystallographic orientation of a surface, etc. The study aims to the use of probe electrometry methods for nondestructive testing and analysis of precision metal surfaces’ defects after different treatment or processing. Control of surface defects of aluminum and its alloys was performed with a scanning Kelvin probe technique. The results of scanning were plotted in a form of contact potential difference (CPD) distribution map. Additionally, a histogram of CPD values distribution and statistical characteristics including the expectation of CPD mean value and histogram half-width were calculated either for the whole distribution or for each individual mode in a case of multimodal distribution. The spatial CPD distribution of A99 aluminum and AMG-2 alloy surfaces after electrochemical polishing and diamond finishing was studied. An additional study was held for AMG-2 surface after the formation of 30 microns thick specific nanostructured alumina oxide surface layer. Higher quality surfaces have characterized as more homogeneous distribution of the physical properties (at half-width distribution histogram). Surfaces with higher mechanical strength and overall better mechanical properties found to have lower CPD values that correspond to higher electron work function and surface energy. The presence of the second mode in the CPD distribution histogram indicates the significant proportion of defect areas on the sample surface. Analysis of visualized CPD distribution maps using defined criteria allows detecting and characterizing such defects as residual stress areas, areas with reduced microhardness, surface contamination spots, corrosion defects. This provides the possibility of rapid nondestructive testing and diagnostic of precision metal surfaces, in particular the starting substrates for sensitive elements and sensory devices manufacture.en


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record