Nenzi, Paolo Reliability analysis of a new probe card technology / Paolo Nenzi, Marco Balucani // Новые направления развития приборостроения : материалы 3-й Международной студенческой научно-технической конференции, 21-23 апреля 2010 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. - Минск : БНТУ, 2010. - С. 267.