Reliability analysis of a new probe card technology
| dc.contributor.author | Nenzi, Paolo | en |
| dc.contributor.author | Balucani, Marco | en |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2018-01-15T07:39:13Z | |
| dc.date.available | 2018-01-15T07:39:13Z | |
| dc.date.issued | 2010 | |
| dc.identifier.citation | Nenzi, Paolo Reliability analysis of a new probe card technology / Paolo Nenzi, Marco Balucani // Новые направления развития приборостроения : материалы 3-й Международной студенческой научно-технической конференции, 21-23 апреля 2010 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. - Минск : БНТУ, 2010. - С. 267. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/36640 | |
| dc.language.iso | en | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Reliability analysis of a new probe card technology | ru |
| dc.type | Working Paper | ru |
