Лисенков, Б. Н. Влияние коммутатора на погрешность тестирования изделий микроэлектроники / Б. Н. Лисенков, Н. В. Грицев // Приборостроение-2018 : материалы 11-й Международной научно-технической конференции, 14-16 ноября 2018 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2018. – С. 34-35.