Влияние коммутатора на погрешность тестирования изделий микроэлектроники
| dc.contributor.author | Лисенков, Б. Н. | |
| dc.contributor.author | Грицев, Н. В. | |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2019-04-15T06:30:09Z | |
| dc.date.available | 2019-04-15T06:30:09Z | |
| dc.date.issued | 2018 | |
| dc.identifier.citation | Лисенков, Б. Н. Влияние коммутатора на погрешность тестирования изделий микроэлектроники / Б. Н. Лисенков, Н. В. Грицев // Приборостроение-2018 : материалы 11-й Международной научно-технической конференции, 14-16 ноября 2018 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2018. – С. 34-35. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/51779 | |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Влияние коммутатора на погрешность тестирования изделий микроэлектроники | ru |
| dc.type | Working Paper | ru |
