Маркевич, М. И. Исследование тонкопленочной системы Si-Fe-Si после отжига в вакууме методом атомно-силовой микроскопии / М. И. Маркевич, Е. Н. Щербакова // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 16-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2018. - Т. 3. - С. 179.