Исследование тонкопленочной системы Si-Fe-Si после отжига в вакууме методом атомно-силовой микроскопии
| dc.contributor.author | Маркевич, М. И. | |
| dc.contributor.author | Щербакова, Е. Н. | |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2019-06-25T06:11:14Z | |
| dc.date.available | 2019-06-25T06:11:14Z | |
| dc.date.issued | 2018 | |
| dc.identifier.citation | Маркевич, М. И. Исследование тонкопленочной системы Si-Fe-Si после отжига в вакууме методом атомно-силовой микроскопии / М. И. Маркевич, Е. Н. Щербакова // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 16-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2018. - Т. 3. - С. 179. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/53741 | |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Исследование тонкопленочной системы Si-Fe-Si после отжига в вакууме методом атомно-силовой микроскопии | ru |
| dc.type | Working Paper | ru |
