Browsing by Author "Соловьев, Я. А."

Now showing items 1-11 of 11

    • Анализ дефектов слоя посадки кристаллов в мощных МОП транзисторах из разностных тепловых спектров при термошоковом воздействии 

      Бумай, Ю. А.; Васьков, О. С.; Нисс, В. С.; Солодуха, В. А.; Петлицкий, А. Н.; Соловьев, Я. А.; Керенцев, А. Ф. (БНТУ, 2017)
      Анализ дефектов слоя посадки кристаллов в мощных МОП транзисторах из разностных тепловых спектров при термошоковом воздействии / Ю. А. Бумай [и др.] // Приборостроение - 2017 : материалы 10-й Международной научно-технической конференции, 1-3 ноября 2017 года, Минск, Республика Беларусь / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. - Минск : ...
      2018-02-08

    • Влияние ионной имплантации азота на эксплуатационные параметры силовых МОП-транзисторов 

      Оджаев, В. Б.; Панфиленко, А. К.; Петлицкий, А. Н.; Просолович, В. С.; Ковальчук, Н. С.; Соловьев, Я. А.; Филипеня, В. А.; Челядинский, А. Р.; Черный, В. В.; Шестовский, Д. В.; Шпаковский, С. В. (БНТУ, 2019)
      Влияние ионной имплантации азота на эксплуатационные параметры силовых МОП-транзисторов / В. Б. Оджаев [и др.] // Приборостроение-2019 : материалы 12-й Международной научно-технической конференции, 13–15 ноября 2019 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2019. – С. 345-346.
      2020-01-03

    • Изменение структуры поверхности пленок Pt/NiV на кремнии методом быстрой термической обработке 

      Насевич, А. А.; Лапицкая, В. А.; Соловьев, Я. А.; Трухан, Р. Э.; Чижик, С. А. (БНТУ, 2024)
      Изменение структуры поверхности пленок Pt/NiV на кремнии методом быстрой термической обработке / А. А. Насевич [и др.] // Новые направления развития приборостроения : материалы 17-й Международной научно-технической конференции молодых ученых и студентов, 17-19 апреля 2024 года, Минск, Республика Беларусь / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев ...
      2024-05-27

    • Исследование шовно-роликовой сварки методом лазерной фотоакустической интроспекции 

      Волкенштейн, С. С.; Керенцев, А. Ф.; Соловьев, Я. А.; Хмыль, А. А. (БНТУ, 2015)
      Исследование шовно-роликовой сварки методом лазерной фотоакустической интроспекции / С. С. Волкенштейн [и др.] // Приборостроение-2015 : материалы 8-й международной научно-технической конференции, Минск, 25-27 ноября 2015 г. : в 2 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2015. – Т. 1. - С. 216-218.
      2016-10-05

    • Исследования изменений теплового сопротивления мощных МОП транзисторов при термоиспытаниях 

      Бумай, Ю. А.; Васьков, О. С.; Нисс, В. С.; Керенцев, А. Ф.; Петлицкий, А. Н.; Соловьев, Я. А. (БГУ, 2018)
      Методом тепловой релаксационной дифференциальной спектрометрии исследованы структура теплового сопротивления, а также профили растекания теплового потока мощных импортных МОП транзисторов (аналогов транзисторов КП7209, КП7128 производства ОАО Интеграл), в различных корпусах (ТО-220, ТО-252) с различными размерами кристалла. Для испытания надежности транзисторы были подвергнуты ...
      2024-06-05

    • Мониторинг технологического процесса герметизации интегральных схем 

      Солодуха, В. А.; Турцевич, А. С.; Соловьев, Я. А.; Рубцевич, И. И.; Керенцев, А. Ф.; Довженко, А. А.; Чирко, И. В. (БНТУ, 2013)
      Высокая надежность интегральных схем специального назначения в металлокерамических корпусах на стадии производства достигается в результате минимизации содержания влаги в корпусе и постоянного измерения параметров среды герметизации. Показано, что использование приборов контроля режимов контактной сварки и приборов для комплексного измерения параметров атмосферы установки ...
      2013-12-02

    • Повышение надежности мощных транзисторов при циклическом воздействии температуры 

      Волкенштейн, С. С.; Солодуха, В. А.; Соловьев, Я. А.; Керенцев, А. Ф.; Хмыль, А. А. (БНТУ, 2017)
      Повышение надежности мощных транзисторов при циклическом воздействии температуры / С. С. Волкенштейн [и др.] // Приборостроение - 2017 : материалы 10-й Международной научно-технической конференции, 1-3 ноября 2017 года, Минск, Республика Беларусь / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. - Минск : БНТУ, 2017. - С. 284-285.
      2018-02-07

    • Сравнительная оценка качества посадки кристаллов на припой и эвтектику в мощных МОП-транзисторах КП7209 в корпусе ТО-254 методом тепловой релаксационной дифференциальной спектрометрии 

      Бумай, Ю. А.; Васьков, О. С.; Кононенко, В. К.; Нисс, В. С.; Керенцев, А. Ф.; Петлицкий, А. Н.; Соловьев, Я. А. (БНТУ, 2016)
      Сравнительная оценка качества посадки кристаллов на припой и эвтектику в мощных МОП-транзисторах КП7209 в корпусе ТО-254 методом тепловой релаксационной дифференциальной спектрометрии / Ю. А. Бумай [и др.] // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: ...
      2017-03-27

    • Сравнительный анализ тепловых параметров мощных биполярных транзисторов различных производителей 

      Нисс, В. С.; Васьков, О. С.; Турцевич, А. С.; Рубцевич, И. И.; Соловьев, Я. А.; Керенцев, А. Ф.; Кононенко, В. К. (БНТУ, 2014)
      Сравнительный анализ тепловых параметров мощных биполярных транзисторов различных производителей / В. С. Нисс [и др.] // Приборостроение-2014 : материалы 7-й Международной научно-технической конференции (19–21 ноября 2014 года, Минск, Республика Беларусь) / ред. колл.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск : БНТУ, 2014. – С. 356-358.
      2015-03-24

    • Формирование и исследование диодов Шоттки на основе силицидов платины и никеля 

      Маркевич, М. И.; Чапланов, А. М.; Малышко, А. Н.; Солодуха, В. А.; Соловьев, Я. А.; Сарычев, О. Э.; Щербакова, Е. Н. (2014)
      Диоды Шоттки находят широкое применение в системах электроники. В настоящей работе определена высота барьера диодов Шоттки, сформированных на основе тонкоплёночной системы NiV-Pt при различных режимах отжига. Методами электронографии и рентгеноспектрального микроанализа исследованы изменения элементного состава и установлены фазовые превращения, происходящие в данных системах при ...
      2021-01-20

    • Эволюция спектров теплового сопротивления мощных моп транзисторов КП723 и КП7209 при воздействии высокоинтенсивных 

      Бумай, Ю. А.; Васьков, О. С.; Нисс, В. С.; Солодуха, В. А.; Петлицкий, А. Н.; Соловьев, Я. А.; Керенцев, А. Ф. (БНТУ, 2017)
      Эволюция спектров теплового сопротивления мощных моп транзисторов КП723 и КП7209 при воздействии высокоинтенсивных / Ю. А. Бумай [и др.] // Приборостроение - 2017 : материалы 10-й Международной научно-технической конференции, 1-3 ноября 2017 года, Минск, Республика Беларусь / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. - Минск : БНТУ, 2017. - ...
      2018-02-08